Handbuch der mikrochemischen Methoden, Volume 4

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Friedrich Hecht, Michael K. Zacherl
Springer, 1966 - Microchemistry
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Contents

Einleitung
1
Geräte und Untersuchungsmöglichkeiten der ElektronenstrahlMikroanalyse
44
Literatur
76
Copyright

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Common terms and phrases

25 Quarz Abhängigkeit Abnahmewinkel Absorberbild absorbierten Absorption Absorptionskante Absorptionskorrektur Aluminium Analysenlinie analysiert Anregung Anregungsspannung Antikathode Atom Atomnummern Auflösungsvermögen auftreffenden auftreten Ausscheidungen Austenit beiden berechnet Bereich Beschleunigungsspannung Bestimmung Bild BIRKS Borgehalt Boride Cameca CASTAING charakteristische Röntgenstrahlung charakteristischen Strahlung chemischen Chrom COSSLETT daher Detektoren direkt DUNCUMB dünnen Durchmesser Eichprobe Eisen Elektronen Elektronenstrahl Elektronenstrahl-Mikroanalysator Elektronenstrahl-Mikroanalyse Emission emittiert Energie erfaßt Erfassungsgrenze erhält Faktor Fall Ferrit Fläche Fluoreszenz Gefügebestandteile gemessen Gerät geringer gleichen Glimmer große Hintergrund höheren Impulsraten Impulszahl Intensität Ionisation kleiner konstant kontinuierliche Konzentration Korrektur Kristall Legierung leichten Elementen lichtoptischen Linie Linienmaximum MALISSA Mangan Matrix Messung Methode Mikrosonde mittels möglich muß Nachweisgrenze Nickel Ordnungszahl PHILIBERT Probe Probenoberfläche Proportionalzählrohr Punktanalysen quantitative Analysen Quarz relativ Röntgen Röntgenquant Röntgenstrahlung Scanning Schale Schichtdicke Signale Silicium Spannung Spektren Spektrometer Spektrum Standard stark Strahl Strahldurchmesser Strahlstrom Tabelle Untersuchungen Verhältnis verschiedenen Verteilung verunreinigten Flecks verwendet Verwendung Wellenlänge Werkstoff Werte wesentlich X-Ray Zählrohr zeigt Zusammensetzung zwei

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