Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität

Front Cover
Springer, 1988 - Computers - 165 pages
Das Buch behandelt die beiden wichtigsten Aufgabenstellungen im Rahmen des wirtschaftlich und wissenschaftlich AuAerst bedeutenden Gebietes der Testvorbereitung: die automatische Testmustergenerierung und die Fehlersimulation. Alle im Buch beschriebenen Methoden und Verfahren zielen zum einen auf die Minimierung des dazu erforderlichen Rechenzeitaufwandes und zum anderen auf die BewAltigung mAglichst groAer SchaltungskomplexitAten. Besonderer Wert wurde auf eine prAzise, formal konsistente und illustrative Beschreibung und auf eine mAglichst vollstAndige Aufbereitung der einschlAgigen Literatur und somit des Standes der Technik gelegt. Das Buch enthAlt eine FA1/4lle neuer Methoden, die eine wesentliche Beschleunigung von Testmustergenerierungs- und Fehlersimulationsverfahren ermAglichen, und dokumentiert den mit diesen Methoden erzielten Fortschritt anhand einer Reihe von vergleichenden Untersuchungen. AuAerdem wird mit SOCRATES das derzeit leistungsfAhigste der aus der Literatur bekannten Testmustergenerierungssysteme detailliert vorgestellt. Neben der Hilfestellung bei Implementierungsaufgaben gibt das Buch eine detaillierte Darstellung der Problematik des Testens integrierter Schaltungen und speziell der Prinzipien der automatischen Testmustergenerierung und der schnellen Fehlersimulation. DarA1/4ber hinaus kann es als Richtschnur fA1/4r Spezialvorlesungen nach dem Vordiplom (Elektrotechnik und Informatik) dienen sowie als Ansatz- und Ausgangspunkt fA1/4r ForschungsaktivitAten auf verwandten Forschungsgebieten.

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Contents

Einleitung
1
Struktur kombinatorischer Schaltungen
21
Schnelle Fehlersimulation in kombinatorischen
29
Copyright

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Common terms and phrases

Aborted Aborted Faults Algorithmus Anwendung Ausführungsanweisung Ausgangssignal automatischen Testmuster automatischen Testmustergenerierung Backtrackings Band Belegungssituation benötigt Beobachtbarkeit Berechnung beschriebenen Bild Bound Lines D-Front deterministischen Testmuster deterministischen Testmustergenerierung deterministischen Testmustergenerierungsalgorithmus Dominanzbeziehungen Dominator Durchführung der zwingend Durchführung einer optionalen durchgeführt dynamischen Effekte des Zielfehlers Einfachpfadsensibilisierung entsprechend explizite Fehlersimulation Falls FAN-Algorithmus Fanout Fanout-Stämme fanoutfreien Zonen Fast Fault Grading Fehlermodell Fehlersimula Fehlersimulation Fehlersimulationsverfahren Fehlerüberdeckungsgrad Free Lines Gatter Gatterauswertungen generierung gerichteten Pfade globalen Implikationen Grading Graphen Gutsimulation Head Lines Hilfe hinaus Implikationsprozedur Knoten im Entscheidungsbaum kombinatorischen Schaltungen lokalen Menge der initialen Micro-VAX Minirechnern Möglichkeit Multiple Backtrace Prozedur nichtdominanten logischen Wert Nichtlösungsgebiete NOR-Gatter optionalen Wertzuweisung Phase Preprocessing Proceedings Prozedur zur Durchführung Prüfbus Rechenzeit rechenzeitsparenden redundanter Fehler Schaltungsausgänge Schaltungseingänge Schaltungsmodell Schieberegister Schu87b Signale der Schaltung Simulation SOCRATES Strukturgraphen Suchproblem Suchraums Tabelle Test Testbarkeits Testbarkeitsmaße Testmuster Testproblem Testsätze Testvorbereitung Uberprüfungskriteriums unabhängige Fanout-Zweige unerkannten Verfahren Vorgehensweise Wertzu widersprüchliche Wertzuweisung Workstations Zahl Zufallsmuster zugewiesen zwin zwingend notwendigen Sensibilisierungsmaßnahmen

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