Handbuch der mikrochemischen Methoden, Volume 4Friedrich Hecht, Michael K. Zacherl Springer, 1966 - Microchemistry |
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... Einfluß der Beschaffenheit der Probenoberfläche wird um so stärker ausgeprägt , je kleiner der Abnahmewinkel der emittierten Röntgenstrahlung ist . Daher sollten die im allgemeinen zu untersuchenden Proben auch vollkommen glatt und eben ...
... Einfluß der Beschaffenheit der Probenoberfläche wird um so stärker ausgeprägt , je kleiner der Abnahmewinkel der emittierten Röntgenstrahlung ist . Daher sollten die im allgemeinen zu untersuchenden Proben auch vollkommen glatt und eben ...
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... Einfluß der Bestrahlungszeiten ist praktisch zu vernachlässigen , denn es sind keine Unterschiede in den Durchmessern von ,, verunreinigten Flecken " zu bemerken . Der Einfluß der Strahlstromstärke ist nur bei höheren Anregungs ...
... Einfluß der Bestrahlungszeiten ist praktisch zu vernachlässigen , denn es sind keine Unterschiede in den Durchmessern von ,, verunreinigten Flecken " zu bemerken . Der Einfluß der Strahlstromstärke ist nur bei höheren Anregungs ...
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... Einfluß der Defokussierung des Strahls . ARLT ( 4 ) hat auch vergleichende Untersuchungen an zwei Geräten durch- geführt . Die Meßbedingungen und die aus je sechs Einzelmessungen errechneten Mittelwerte sind aus Tabelle 12 zu entnehmen ...
... Einfluß der Defokussierung des Strahls . ARLT ( 4 ) hat auch vergleichende Untersuchungen an zwei Geräten durch- geführt . Die Meßbedingungen und die aus je sechs Einzelmessungen errechneten Mittelwerte sind aus Tabelle 12 zu entnehmen ...
Contents
Einleitung | 1 |
Geräte und Untersuchungsmöglichkeiten der ElektronenstrahlMikroanalyse | 44 |
Meß und Auswerteverfahren | 77 |
Copyright | |
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Handbuch der mikrochemischen Methoden, Volume 2 Friedrich Hecht,Michael K. Zacherl Snippet view - 1954 |
Common terms and phrases
Abnahmewinkel Absorberbild absorbierten Absorption Absorptionskorrektur Acta Wien Analysenlinie analysiert Anregung Anregungsspannung Antikathode Atom Atomnummern Auflösungsvermögen auftreffenden auftreten Austenit berechnet Bereich Beschleunigungsspannung Bestimmung Bild BIRKS Borgehalt Boride Cameca CASTAING charakteristischen Strahlung chemischen Chrom daher Detektoren DUNCUMB dünnen Durchmesser Eichprobe Eindringtiefe Einfluß Eisen Elektronen Elektronenstrahl Elektronenstrahl-Mikroanalysator Elektronenstrahl-Mikroanalyse emittiert Energie erfaßt Erfassungsgrenze erhält Fall Ferrit Fläche Fluoreszenz Fluoreszenzkorrektur Gefügebestandteile gemessen Gerät geringer gleichen Glimmer groß große Hintergrund höheren Impulsraten Impulszahl Intensität Ionisation Jeol K-Schale kleiner konstant kontinuierliche Konzentration Korrektur Kristall Kupfer läßt Legierung leichten Elementen lichtoptischen Linescanning Linie MALISSA Mangan Matrix Messung Methode Mikrosonde mittels möglich muß Nachweisgrenze Nickel Ordnungszahl PHILIBERT Probe Probenoberfläche Probenstrom Punktanalysen quantitative Analysen Quarz relativ Röntgen Röntgenquant Röntgenstrahlung Scanning Schichtdicke schließlich Signale Silicium Spannung Spektren Spektrometer Spektrum Standard stark Strahl Strahldurchmesser Strahlstrom Stromdichten Tabelle Untersuchungen verschiedenen Verteilung verwendet Verwendung Wellenlänge Werkstoff Werte wesentlich X-Ray Zählrohr zeigt Zusammensetzung zwei Κα