Handbuch der mikrochemischen Methoden, Volume 4Friedrich Hecht, Michael K. Zacherl Springer, 1966 - Microchemistry |
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... Intensität der Linie einen Abstand vom Hintergrund von mindestens 3 Standardabweichun- gen aufweist , d.h. S — N > 3√N S = Intensität auf der Linie . ( 4.13 ) N = Intensität des Hintergrundes . Für die Nachweisgrenze in % ergibt sich ...
... Intensität der Linie einen Abstand vom Hintergrund von mindestens 3 Standardabweichun- gen aufweist , d.h. S — N > 3√N S = Intensität auf der Linie . ( 4.13 ) N = Intensität des Hintergrundes . Für die Nachweisgrenze in % ergibt sich ...
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... Intensität I bezogen haben und nicht auf die anregende Intensität IB . A und B bezeichnen die Frequenzen der Ab- sorptionskanten , r das Verhältnis der Absorptionskoeffizienten beiderseits der K - Kante ( A ) ( man erhält es im ...
... Intensität I bezogen haben und nicht auf die anregende Intensität IB . A und B bezeichnen die Frequenzen der Ab- sorptionskanten , r das Verhältnis der Absorptionskoeffizienten beiderseits der K - Kante ( A ) ( man erhält es im ...
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... Intensität des kontinuierlichen Spek- trums ( proportional Z ) in Probe und Standard gleich , und die Intensität der Fluoreszenz von A wird proportional der Konzentration CA sein . Die Gesamt- emission ist also proportional CA , und man ...
... Intensität des kontinuierlichen Spek- trums ( proportional Z ) in Probe und Standard gleich , und die Intensität der Fluoreszenz von A wird proportional der Konzentration CA sein . Die Gesamt- emission ist also proportional CA , und man ...
Contents
Einleitung | 1 |
Geräte und Untersuchungsmöglichkeiten der ElektronenstrahlMikroanalyse | 44 |
Meß und Auswerteverfahren | 77 |
Copyright | |
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Common terms and phrases
Abnahmewinkel Absorberbild absorbierten Absorption Absorptionskorrektur Acta Wien Analysenlinie analysiert Anregung Anregungsspannung Antikathode Atom Atomnummern Auflösungsvermögen auftreffenden auftreten Austenit berechnet Bereich Beschleunigungsspannung Bestimmung Bild BIRKS Borgehalt Boride Cameca CASTAING charakteristischen Strahlung chemischen Chrom daher Detektoren DUNCUMB dünnen Durchmesser Eichprobe Eindringtiefe Einfluß Eisen Elektronen Elektronenstrahl Elektronenstrahl-Mikroanalysator Elektronenstrahl-Mikroanalyse emittiert Energie erfaßt Erfassungsgrenze erhält Fall Ferrit Fläche Fluoreszenz Fluoreszenzkorrektur Gefügebestandteile gemessen Gerät geringer gleichen Glimmer groß große Hintergrund höheren Impulsraten Impulszahl Intensität Ionisation Jeol K-Schale kleiner konstant kontinuierliche Konzentration Korrektur Kristall Kupfer läßt Legierung leichten Elementen lichtoptischen Linescanning Linie MALISSA Mangan Matrix Messung Methode Mikrosonde mittels möglich muß Nachweisgrenze Nickel Ordnungszahl PHILIBERT Probe Probenoberfläche Probenstrom Punktanalysen quantitative Analysen Quarz relativ Röntgen Röntgenquant Röntgenstrahlung Scanning Schichtdicke schließlich Signale Silicium Spannung Spektren Spektrometer Spektrum Standard stark Strahl Strahldurchmesser Strahlstrom Stromdichten Tabelle Untersuchungen verschiedenen Verteilung verwendet Verwendung Wellenlänge Werkstoff Werte wesentlich X-Ray Zählrohr zeigt Zusammensetzung zwei Κα