Elektronenstrahl-Mikroanalyse: von Hanns Malissa |
Contents
Einleitung | 1 |
7 Präparation nichtmetallischer Proben | 38 |
Geräte und Untersuchungsmöglichkeiten der ElektronenstrahlMikroanalyse | 44 |
Copyright | |
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Common terms and phrases
25 Quarz Abnahmewinkel Absorberbild absorbierten Absorption Acta Wien analysiert Analysis Anregung Anregungsspannung Antikathode Appl Applications Atom Atomnummern auftreten Austenit berechnet Bereich Beschleunigungsspannung Bestimmung Bild BIRKS Borgehalt Boride Cameca Carbid CASTAING charakteristischen Strahlung chemischen Chrom daher Detektoren diffusion DUNCUMB dünnen Durchmesser Eichprobe Eindringtiefe Einfluß Eisen Electron Probe Microanalysis Elektronen Elektronenstrahl Elektronenstrahl-Mikroanalysator Elektronenstrahl-Mikroanalyse emittiert Energie Erfassungsgrenze erhält Ferrit Fläche Fluoreszenz Fluoreszenzkorrektur Gefügebestandteile gemessen Gerät gleichen Glimmer groß große Hintergrund höheren Impulsraten Impulszahl Intensität Ionisation Jeol K-Schale kleiner kontinuierliche Konzentration Korrektur Kristall läßt Legierung leichten Elementen Linescanning Linie MALISSA Mangan Matrix Messung Methode Microanalyzer Microscopy Mikrochim Mikrosonde möglich muß New York-London Nickel Ordnungszahl PHILIBERT Probenoberfläche Proc Punktanalysen quantitative Analysen Quarz relativ Röntgen Röntgenstrahlen Scanning Schichtdicke schließlich Silicium Spannung Spektren Spektrometer Spektrum Standard stark Strahl Strahldurchmesser Strahlstrom Tabelle TOUSIMIS Untersuchungen verschiedenen Verteilung verwendet Verwendung Wellenlänge Werkstoff Werte wesentlich X-ray Zählrohr zeigt Zusammensetzung zwei Κα